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半导体芯片/器件辐射响应在线实时测试系统

成果编号:02190
价格:面议
完成单位:西交利物浦大学
单位类别:其他高校
完成时间:2013年
成熟程度:研制阶段
服务产业领域: 电子信息、新材料
发布人:赵策洲 离线
该项目研发了半导体芯片/器件辐射响应在线实时测试系统,已申请发明专利3项,获发明专利2项
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成果介绍

科技计划:
成果形式:新技术、新装备
合作方式:技术转让、技术入股
参与活动: 2022年高校院所走进镇江产学研合作对接活动
专利情况: 正在申请 ,其中:发明专利 3
已授权专利,其中:发明专利 2
成果简介
综合介绍
该项目研发了半导体芯片/器件辐射响应在线实时测试系统,已申请发明专利3项,获发明专利2项
创新要点
可以实时在线观测到器件的电离辐射损伤
技术指标
传统的I-V与C-V测量手段测试速度为秒级。该项目运用脉冲I-V、脉冲C-V与脉冲On-The-Fly等测量技术,将测试速度提高到了微秒级,并实现了对半导体器件电离辐射损伤的实时在线测量
其他说明
完成人信息
姓名:对接成功后可查看
所在部门:对接成功后可查看
职务:对接成功后可查看
职称:对接成功后可查看
手机:对接成功后可查看
E-mail:对接成功后可查看
电话:对接成功后可查看
传真:对接成功后可查看
邮编:对接成功后可查看
通讯地址:对接成功后可查看
联系人信息
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