需求简要说明及主要技术参数 |
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目前已建立设计图纸元件库、部件库、节点库,已实现按照指定逻辑对图纸进行最小拓扑的拆分,实现拓扑的结构化数据提取。
需要建立拓扑库,将所有不同的“拓扑样本”入库,每一种拓扑样本都对应不同的屏柜试验步骤,从图纸中拆分出的“拓扑实例”与数据库中的样本快速匹配,最终在将所有拓扑对应的试验步骤进行整合排序,生成这份图纸的屏柜测试大纲。
拓扑实例与拓扑库中样本的快速对应算法,该算法涉及“图同构”问题。
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