需求简要说明及主要技术参数 |
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芯片检测的实际测试时间的缩短,意味着企业生产效率的提升,能够在更短的时间内产生更多的经济价值,进而让企业在行业竞争中获取优势,甚至引领行业的发展。晶圆级芯片的检测时间,主要包括上片时间、对针时间、试扎针时间、量产时间、清针时间、下片时间,其中对针时间和量产时间占比较高。优化对针时间和量产时间对于提升生产效率较为关键。
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