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晶圆级芯片检测效率的提升

需求所属领域: 电子信息
需求所处阶段:批量生产阶段
需求缘由:制造工艺改进
意向合作方式: 技术咨询
意向合作院校: 江苏大学
拟投入资金额: 面议
参加活动: 第二届江苏产学研合作对接大会、2023年高校院所服务苏北五市产学研合作对接活动
发布人:江苏昊扬微电子有限公司 离线
芯片检测的实际测试时间的缩短,意味着企业生产效率的提升,能够在更短的时间内产生更多的经济价值,进而让企业在行业竞争中获取优势,甚至引领行业的发展。晶圆级芯片的检测时间,主要包括上片时间、对针时间、试扎针时间、量产时间、清针时间、下片时间,其中对针时间和量产时间占比较高。优化对针时间和量产时间对于提升生产效率较为关键。
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需求详情

技术介绍
需求简要说明及主要技术参数
芯片检测的实际测试时间的缩短,意味着企业生产效率的提升,能够在更短的时间内产生更多的经济价值,进而让企业在行业竞争中获取优势,甚至引领行业的发展。晶圆级芯片的检测时间,主要包括上片时间、对针时间、试扎针时间、量产时间、清针时间、下片时间,其中对针时间和量产时间占比较高。优化对针时间和量产时间对于提升生产效率较为关键。
企业信息
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负责人信息
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